| 编号 | LH2018436 |
| 项目名称 | MCU及FPGA器件辐照效应测试系统 |
| 项目简介 | 总体技术方案：本系统应用于MCU及FPGA器件高能中子单离子效应测试系统。能测试分析MCU及FPGA器件出现的异常情况的原因。能测试MCU及FPGA器件的主要功能，包括对ALU、RAM、IO端口、时钟和中断的测试，并进行单元测试。在出现单粒子效应时，测试系统能准确反映MCU及FPGA器件的单粒子翻转和闭锁情况，能够对翻转和闭锁情况进行判断，能对翻转数量进行即时统计和记录，能准确找到并显示出现翻转的具体地址，能记录和显示翻转和闭锁对应的准确时间。 |
| 联系人 | 殷亮 |
| 联系电话 | 02557675219 |
