| 编号 | LH2018432 |
| 项目名称 | MCU及FPGA器件辐照效应测试系统 |
| 项目简介 |
本测试系统主要应用于MCU及FPGA器件辐照效应测试与分析，其重要功能为：测试MCU及FPGA器件主要功能单元在辐照下的效应情况，若出现效应时，测试系统能准确反映MCU及FPGA器件主要功能单元的效应情况并将其进行显示和存储。 本测试系统主要由辐照下的MCU及FPGA目标板（T板）、监控板（M板）、RS422-RS232转换板和PC机监控平台监控部分构成，其主要的优点在于： （1）应用于远程控制调试，采用了FPGA作为检测桥梁，可提供MCU及FPGA器件的实时测试信号，检测MCU及FPGA器件的端口电平情况， （2）由于监控板距离目标板较远，辐照的影响小， （3）提供支持快捷而稳定的通信的硬件和软件， （4）采用RS422来作为通信物理层，并通过严格的软件校验来减少错误数据，便于MCU及FPGA器件高速运行的时候可能产生大量的信息的传送。 （5）灵活实用的监控软件。具有良好的用户操作界面，便于操作。 （6）开放的通信协议，稳定可靠。能够方便对系统进行二次开发。 |
| 联系人 | 殷亮 |
| 联系电话 | 02557675219 |
